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Microscopía

Microscopía óptica con analizador de imagen

  • Distribución en número del tamaño de partículas a partir de 10 µm
  • Detección de fallos superficiales
  • Lupa: hasta 50x
  • Microscopio óptico: 50x, 100x, 200x y 400x

Microscopía electrónica de barrido: SEM + EDX

  • Detector de electrones secundarios (SE): estructura superficial
  • Detector de electrones retrodispersados (BSD): información composicional
  • Detector de rayos X (EDX): análisis cualitativo y cuantitativo de los elementos químicos en un punto, zona o en toda la imagen.
  • Resolución: 200nm (50000x)

Microscopía electrónica de transmisión: TEM + EDX

  • Detector rayos X: Análisis cualitativo y cuantitativo de los elementos químicos en la imagen.
  • Tomografía: Imagen en 3D obtenida a partir de las imÁgenes tomadas entre -70° y +70°.
  • Resolución: 0.24nm (1.000.000x).
  • Ultramicrotomo con sistema crio, espesor del corte: inferior a 100nm

Perfilómetro óptico 3D

Medida de la rugosidad superficial de una muestra a escala micro o nanométrica.
  • Tecnología confocal (escala micrométrica).
  • Técnica de interferometría (escala nanométrica).

Microscopía de fuerza atómica (AFM)

Instrumento mecano-óptico sensible a la fuerza atómica ejercida entre átomos de una superficie.

Goniómetro

  • Medida del ángulo de contacto entre un disolvente y la superficie de una muestra.
  • Tensión superficial de un sólido.

Analizador de imagen  SEM  TEM

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