Microscopía óptica con analizador de imagen
- Distribución en número del tamaño de partículas a partir de 10 µm
- Detección de fallos superficiales
- Lupa: hasta 50x
- Microscopio óptico: 50x, 100x, 200x y 400x
Microscopía electrónica de barrido: SEM + EDX
- Detector de electrones secundarios (SE): estructura superficial
- Detector de electrones retrodispersados (BSD): información composicional
- Detector de rayos X (EDX): análisis cualitativo y cuantitativo de los elementos químicos en un punto, zona o en toda la imagen.
- Resolución: 200nm (50000x)
Perfilómetro óptico 3D
Medida de la rugosidad superficial de una muestra a escala micro o nanométrica.
- Tecnología confocal (escala micrométrica).
- Técnica de interferometría (escala nanométrica).
Microscopía de fuerza atómica (AFM)
Instrumento mecano-óptico sensible a la fuerza atómica ejercida entre átomos de una superficie.
Goniómetro
- Medida del ángulo de contacto entre un disolvente y la superficie de una muestra.
- Tensión superficial de un sólido.
Documentos asociados
Microscopía